时间：2025-06-20阅读：803次
射频探针是一种测量装置，用于电子测试设备，对硅片、管芯及开放式微芯片中的电子电路射频（RF）信号进行测量。此外，射频探针还用于连接器组件中窄间距或高密度射频互连应用。
射频探针开发于1980年，在此之前，由于没有一种能够在无需安装或贴合状态下对单片微波集成电路（MMIC）装置进行测试的简便方法，因此测试过程常常使得电路完整性遭到破坏，引发系统干扰或降低电力负载。
[敏感词]代射频探针采用共面陶瓷馈电，覆盖18 GHz以内频段。随着射频探针技术的发展，现代通信电子设备中所使用的是配置弹簧加载式内外导体的射频探针。
如今，射频探针仍然是射频开关、印刷电路板射频迹线、终端器件以及其他射频元器件测试中必备的重要工具。
一般测试PCB不同间距的测试点，在机箱内部的自动化机械手臂上，配对使用。
将一对半刚电缆，剥出芯线安装在同一个夹具内部，接触端的电缆折弯成固定间距，手动测试。
用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试，精密度和测试频率较高。
pogo pin 是一种有针轴、弹簧、针管三个基本部件组成的结构，探针整体是具有一定行程和弹力。
射频测试探针通过其探针头与待测电路接触，将电路中的射频信号引导至测量设备。探针的设计需考虑高频信号传输特性，包括阻抗匹配和信号完整性，以确保测量的准确性。
射频针主要用于高频RF，射频和微波模块等信号[敏感词]、检测和测量输出，高频电路板电气性能分析。
具备能通过的信号比较集中，损耗少的特性，在高速数字电路板、微波芯片的测试中，对于射频探针的阻抗、损耗等都有非常高的要求。
射频探针的设计结构复杂，部件多，附价值高，多以订制为主。
由于待测设备的性质和构成非常敏感且通常较为精细，因此射频电路的测量往往是一项棘手任务。
高可靠性射频测量中困扰多的两大问题是：
频率太高时，当前测试设备无法进行射频能量的测量。
当待测电路对电气环境中的微小变化敏感时，测量中要求频率或幅度不发生扰动。
这些问题可通过采用对待测电路的能量扰动尽可能小的测量探针解决，其中，高阻抗探针中的放大器能够平衡待测电路的受扰能量。
➤与测试射频的阻抗匹配
在射频电路系统测试中，探针与测试设备的阻抗匹配对于能否实现有效的功率传输而言至关重要。然而，随着测试频率越来越高，以及对测试误差的要求越来越严格，上述阻抗匹配变得越来越困难。
➤接触测试点、频率或数据速率、探针可用空间以及环境条件
在射频测试领域中，射频测试探针分为多种不同类型，如何选择合适的探针取决于对待接触测试点、频率或数据速率、探针可用空间以及环境条件的考量。将来，射频探针需要具有测试更小焊盘及多个信道的设计能力，以及同时覆盖多种毫米波、射频、逻辑和功率信道测量范围的能力。
