- PT0 系列
- PCB弹簧针主要用于：PCB板的测试，通过线路和线路间电阻或电容的比较来判断线路导通等缺陷。通常，PCB弹簧针与针套配套使用的，针套：可分为尾部带线及不带线。
- PC50 系列
- ICT测试针又称“ICT在线测试针”。主要用于：在线电路测试及功能测试，检测制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况，能够定量地对元器件进行测量及进行功能测试。
通常，ICT测试针与其匹配尺寸的针套一起使用，针套固定在PCB板上，以方便随时更换探针。
- PM700 系列
- 射频针也称“RF探针”，其具备能通过的信号比较集中，损耗少的特性，在高速数字电路板、微波芯片的测试中，对于射频探针的阻抗、损耗等都有非常高的要求。主要用于高频RF，射频和微波模块等信号插入、检测和测量输出，高频电路板电气性能分析。射频探针设计结构复杂，部件多，附价值高，多以订制为主。
- BIP178 系列
- 材质&镀层(Materials & Plated)： 针头(Plunger)：BeCu，Au Plated 铍铜，镀金 针管(Barrel)：Brass，Au Plated 黄铜，镀金 弹簧(Spring)：SUS，Au Plated 不锈钢，镀金 机械参数Mechanical Spec.(建议……
- SCPE026 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等，体积细小，测试精度要求较高。按结构分为：双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻，超高的带宽，可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前，先得利可加工最……
- PCM350-385 系列
- 大电流针也称“大电流探针”，其特点是测试电流大，测试条件温度高。主要用于：高温高电流的在线测试领域，如：光伏新能源电池的测试等，具备测试电流大，测试条件温度高的特性。
- P50 系列
- PCB弹簧针主要用于：PCB板的测试，通过线路和线路间电阻或电容的比较来判断线路导通等缺陷。 通常，PCB弹簧针与针套配套使用的，针套：可分为尾部带线及不带线。
- RPM786-472 系列
- 射频针也称“RF探针”，其具备能通过的信号比较集中，损耗少的特性，在高速数字电路板、微波芯片的测试中，对于射频探针的阻抗、损耗等都有非常高的要求。主要用于高频RF，射频和微波模块等信号插入、检测和测量输出，高频电路板电气性能分析。射频探针设计结构复杂，部件多，附价值高，多以订制为主。
- PC75 系列
- ICT测试针又称“ICT在线测试针”。主要用于：在线电路测试及功能测试，检测制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况，能够定量地对元器件进行测量及进行功能测试。
通常，ICT测试针与其匹配尺寸的针套一起使用，针套固定在PCB板上，以方便随时更换探针。
- BIP180 系列
- 材质&镀层(Materials & Plated)： 针头(Plunger)：BeCu，Au Plated 铍铜，镀金 针管(Barrel)：Brass，Au Plated 黄铜，镀金 弹簧(Spring)：SUS，Au Plated 不锈钢，镀金 机械参数Mechanical Spec.(建议……
- PCM350-461 系列
- 材质&镀层(Materials & Plated)： 针头(Plunger)：BeCu/SK4，Au Plated针管(barrel)：Brass，Au Plated 弹簧(Spring)：SUS，No Plated针套(Receptacle)：Brass，Au Plated 电子参数(Electri……
- SCPA028 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等，体积细小，测试精度要求较高。按结构分为：双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻，超高的带宽，可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前，先得利可加工最……
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