- SCFA031 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等，体积细小，测试精度要求较高。按结构分为：双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻，超高的带宽，可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前，先得利可加工最……
- SCPA031 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等，体积细小，测试精度要求较高。按结构分为：双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻，超高的带宽，可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前，先得利可加工最……
- BIP48 系列
- 充电针也称“pogopin”。主要用于：智能家居、智能穿戴、汽车电子等部件的充电导通测试。充电针属于功能针，不作测试用，主要起连接导通作用， 具备导通性好、电阻小、稳定性高的特点。
- BIP54 系列
- 充电针也称“pogopin”。主要用于：智能家居、智能穿戴、汽车电子等部件的充电导通测试。充电针属于功能针，不作测试用，主要起连接导通作用， 具备导通性好、电阻小、稳定性高的特点。
- BIP500 系列
- 材质&镀层(Materials & Plated)： 针头(Plunger)：Brass，Au Plated 黄铜，镀金 针管(Barrel)：Brass，Au Plated 黄铜，镀金 弹簧(Spring)：SUS，Au Plated 不锈钢，镀金 机械参数Mechanical Spec.(建……
- SCPC031 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等，体积细小，测试精度要求较高。按结构分为：双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻，超高的带宽，可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前，先得利可加工最……
- SCPA033 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等，体积细小，测试精度要求较高。按结构分为：双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻，超高的带宽，可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前，先得利可加工最……
- SCPF033 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等，体积细小，测试精度要求较高。按结构分为：双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻，超高的带宽，可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前，先得利可加工最……
- SCPA035 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等，体积细小，测试精度要求较高。按结构分为：双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻，超高的带宽，可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前，先得利可加工最……
- SCPC035 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等，体积细小，测试精度要求较高。按结构分为：双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻，超高的带宽，可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前，先得利可加工最……
- SCPE035 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等，体积细小，测试精度要求较高。按结构分为：双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻，超高的带宽，可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前，先得利可加工最……
- SCPF035 系列
- 材质&镀层(Materials & Plated)： 针管(Barrel)：Ph，Au on Ni Plated 针头1(Plunger)：SK4/Becu，Au on Ni Plated 针头2(Plunger)：SK4/Becu，Au on Ni Plated 弹簧(Spring)：SWP/……
邮箱
- sale@centalic.com.hk
微信
电话
- 0755-27494785
手机
- 158-1734-5903
客服
TOP
