
- SCPD150 系列
- 材质&镀层(Materials & Plated): 针管(Barrel):Ph,Au on Ni Plated 针头1(Plunger):SK4/Becu,Au on Ni Plated 针头2(Plunger):SK4/Becu,Au on Ni Plated 弹簧(Spring):SWP/……
- SCFA160 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等,体积细小,测试精度要求较高。按结构分为:双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻,超高的带宽,可以满足5-40G高频率信号测试要求。
目前,先得利可加工最……
- SCPA165 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等,体积细小,测试精度要求较高。按结构分为:双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻,超高的带宽,可以满足5-40G高频率信号测试要求。
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- SCPA198 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等,体积细小,测试精度要求较高。按结构分为:双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻,超高的带宽,可以满足5-40G高频率信号测试要求。
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- SCFB497 系列
- 半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,J,J1,U,U1等,体积细小,测试精度要求较高。按结构分为:双头--单动探针、双头--双动探针 系列。
主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻,超高的带宽,可以满足5-40G高频率信号测试要求。
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- 先得利2026年中秋&国庆放假通知!
- 放 假 ……
- 长鑫存储、长江存储无意向苹果大量供应芯片
- 据wccftech报道,长鑫存储与长江存储对进入苹果供应链的态度相对谨慎,双方均无意将这一潜在合作视为关键业务布局,而更倾向于将其作为自身技术实力与国际竞争力的背书,尤其在与西方客户的交易中发挥证明作用。 两家公司目前以服务国内客户为主,以助力实现国内存储芯片自给自足的战略……
- 屏幕界卷王!三星展示全球首款300Hz笔记本OLED屏
- 在韩国釜山举办的IMID 2026显示技术展上,三星集中展示了多项前沿显示成果,其中最为瞩目的是一款面向游戏笔记本电脑的16英寸OLED面板,刷新率高达300Hz。 这标志着业界首次将OLED显示屏的刷新率提升至300Hz级别,虽然三星尚未公布该面板的完整参数,但已确认其采……
- 小米首款阔折叠蓄势待发:首发自研芯片玄戒O3
- 有博主爆料称,小米首款阔折叠即将发布。结合此前小米集团总裁卢伟冰透露的消息来看,小米阔折叠预计在9月正式登场,该机将首发自研芯片玄戒O3,其发布档期与苹果阔折叠iPhone Ultra较为接近。 此前在澎湃OS 4的官方介绍页面中,曾出现一款阔折叠手机的示意图片,其采用大R……
- ICT探针接触不良怎么办?一套方法搞定排查与预防!
- 在PCBA生产测试中,通过测试治具上的探针与PCB测试点接触,可快速检测开路、短路、元器件参数错误等缺陷。然而,实际生产中最常见也最令人头疼的异常,莫过于ICT探针接触不良。接触不良会导致测试误判、良品被判为不良品、重复测试、测试效率下降,甚至影响整个生产节拍。 本文将从成因入手,系统梳理……
- 戴尔笔记本摄像头在Linux摸黑5年:罪魁祸首竟是型号记错
- 据报道,独立Linux内核开发者萨汉·尼桑卡近日向内核邮件列表提交了一套包含3个补丁的系列。 这套补丁正式为戴尔Latitude 7320可拆卸笔记本启用了前置摄像头支持。 令人意外的是,戴尔Latitude 7320二合一笔记本的前置摄像头在Linux下5年来从未正……
- 苹果拿下高端手机市场65%的份额:iPhone 17系列功不可没
- 调研机构Counterpoint Research最新发布的报告显示,2026年上半年,高端智能手机(售价600美元及以上)在整体市场中的占比达到了创纪录的29%,同比提升了4个百分点。 其中苹果占据了高端智能手机销量的65%,高于2025年上半年的63%,但低于2022年……
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