材质&镀层(Materials & Plated)：

针头(Plunger)：Becu，Au/Ni Plated 

针管(Barrel)：Brass，Au Plated 

弹簧(Spring)：SWP，Au Plated
针套(Casing)：Brass，Au Plated 

电子参数(Electrical Spec.)：
中心距(Centers)：1.91 mm(75 mil)
安装孔尺寸（Mouting Hole Size）：ø1.35 mm
满行程(Full Stroke)：6.40 m

额定行程(Rated Stroke)：4.30 mm

额定弹力(Rated Force)：150gf(5.5 oz) / 200gf(7.2 oz) / 227(8 oz) / 300gf(10.5 oz)

额定电流(Current Rating)：3 A（Continuous）
接触电阻(Contact Resistance)：40 mΩ（Max）

ICT测试针，又称“测试针”。主要用于：在线电路测试及功能测试，检测制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况，能够定量地对元器件进行测量及进行功能测试。          

通常，ICT测试针与其匹配尺寸的针套一起使用，针套固定在PCB板上，以方便随时更换探针。